Microscop electronic de baleiaj VERIOS G4
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
Rezultatele ICPE-CA din 2011 proiecteaza imaginea unui institut de CD modern
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
Infrastructura de cercetare – Școala Doctorală Știința și Ingineria Materialelor
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
MICROSCOPIA ELECTRONICA CU SCANARE
Microscoape Electronice cu Transmisie Morgagnia | aparatura de laborator
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
Metode şi tehnici de cercetare în domeniu. Planificarea cercetării. Training pe aparatură/Software performante
Untitled
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic cu baleiaj (SEM) – ECOMET
Microscopul Electronic de Baleiaj (SEM) | PDF
Microscop electronic de baleiaj QUATRO ESEM
04_Microscopia electronică_site.pptx
Echipamente
04_Microscopia electronică_site.pptx
Microscop electronic de baleiaj cu tunelare cu studiul suprafetelor Tip Platforma STM Ntegra Aura NT - MDT
Microscop electronic de baleiaj cu emisie de camp (FESEM) Model Carl Zeiss Auriga Sistem cu fascicul focalizat de ioni (FIB) Mo
